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宇问EC770XE分体涂层测厚仪

宇问EC770XE分体涂层测厚仪分体型,能同时测量磁性基材表面(如钢、铁等)的非磁性涂镀层(如油漆、陶瓷、铬等),以及非磁性金属基材表面的非导电涂镀层(如油漆等)。本仪表内置高精密双探头,利用电磁感应和涡流效应,全自动探测基材属性,计算涂镀层厚度,并通过点阵液晶快速显示结果。同时,测量数据可分组保存,并实时显示统计值。用户可分别为每组设置上下限报警值、零校准。全新的零校准,让您非常方便的

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技术指标

测量原理:磁感应(F探头);涡流效应(N探头);

测量范围:F:0~5000um;N:3000um

测量精度(典型值):± (读数的2%+1um);

分辨率:0um~99um(0.1um), 100um~999um (1um), 1000um~5000um (0.01mm);

校准:零点校准;

数据存储与分组:一个直接组(数据不保存)和四个通用组(数据可被保存),每组有单独的统计,报警上下限设置和校准设置;

统计值:支持平均值、小值、大值和标准方差;

支持单位:um, mm, mils;

报警:用户可设置上下报警限,当发生报警时,液晶屏幕可显示提示;

曲率半径:凸5mm,凹25mm;

测量面积:直径20mm;

基材厚度:0.2mm(F探头);0.05mm(N探头);

电脑接口:可通过USB口连接计算机下载数据;

电源:两节1.5V AAA电池;

操作温度:0~40℃;

保存温度:--20℃ to 70℃;

尺寸:110mm*53mm*24mm;

 

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