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CSK-IA 试块校准试块

更新时间：2023-09-13

访问量：798

厂商性质：生产厂家

生产地址：济宁儒佳检测仪器有限公司

简要描述：

CSK-IA试块斜探头的折射角;3利用试块直角棱边测定斜探头声束轴线的偏离情况;4利用25mm厚度测定探伤仪水平线性、垂直线性和动态范围;5利用25mm 厚度调整纵波探测范围和扫描速度;6利用R50和 R100mm曲面调节横波探测范围和扫描速度

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产品介绍：

品牌	其他品牌	加工定制	是
类型	超声

CSK-IA试块是由IIW试块的基础上改进而来的主要用途有:1利用R100mm曲面测定斜探头的入射点和前沿长度;2利用50和1.5mm圆孔测定斜探头的折射角;3利用试块直角棱边测定斜探头声束轴线的偏离情况;4利用25mm厚度测定探伤仪水平线性、垂直线性和动态范围;5利用25mm 厚度调整纵波探测范围和扫描速度;6利用R50和 R100mm曲面调节横波探测范围和扫描速度;7利用50、44和40mm 三个台阶孔测定斜探头分辨力。